ಒಂದು Cu ≤ 0.50 %; ನಿ ≤ 0.50 %; Cr ≤ 0.50 % ಮತ್ತು Mo ≤ 0.15 %.

b ಇಂಗಾಲದ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಗರಿಷ್ಟ ಸಾಂದ್ರತೆಗಿಂತ 0.01 %ನ ಪ್ರತಿ ಕಡಿತಕ್ಕೆ, Mn ಗೆ ನಿಗದಿತ ಗರಿಷ್ಠ ಸಾಂದ್ರತೆಗಿಂತ 0.05 % ರಷ್ಟು ಹೆಚ್ಚಳವನ್ನು ಅನುಮತಿಸಲಾಗಿದೆ, ಗ್ರೇಡ್‌ಗಳಿಗೆ 1.65 % ವರೆಗೆ ≥ L245 ಅಥವಾ B, ಆದರೆ ≤ L360 ಅಥವಾ X52; ಗ್ರೇಡ್‌ಗಳಿಗೆ ಗರಿಷ್ಠ 1.75 % ವರೆಗೆ > L360 ಅಥವಾ X52, ಆದರೆ <L485 ಅಥವಾ X70; ಮತ್ತು ಗ್ರೇಡ್ L485 ಅಥವಾ X70 ಗೆ ಗರಿಷ್ಠ 2.00 % ವರೆಗೆ.

ಸಿ ಇಲ್ಲದಿದ್ದರೆ ಒಪ್ಪಿಗೆ ನೀಡದ ಹೊರತು, Nb + V ≤ 0.06 %.

d Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

ಇ ಇಲ್ಲದಿದ್ದರೆ ಒಪ್ಪಿಗೆ ನೀಡದ ಹೊರತು.

f ಅನ್ಯಥಾ ಒಪ್ಪದ ಹೊರತು, Nb + V + Ti ≤ 0.15 %.

g ಯಾವುದೇ ಉದ್ದೇಶಪೂರ್ವಕವಾಗಿ B ಯ ಸೇರ್ಪಡೆಯನ್ನು ಅನುಮತಿಸಲಾಗುವುದಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ಉಳಿದಿರುವ B ≤ 0.001 %.

ಪೈಪ್ ಗ್ರೇಡ್

ಎಲ್ಲಿ

C SI ಘಟಕಗಳನ್ನು ಬಳಸುವ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರಗಳಿಗೆ 1940 ಮತ್ತು USC ಘಟಕಗಳನ್ನು ಬಳಸುವ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರಗಳಿಗೆ 625,000 ಆಗಿದೆ;

Axc ಎಂಬುದು ಅನ್ವಯವಾಗುವ ಕರ್ಷಕ ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕು ಅಡ್ಡ-ವಿಭಾಗದ ಪ್ರದೇಶವಾಗಿದೆ, ಇದನ್ನು ಚದರ ಮಿಲಿಮೀಟರ್‌ಗಳಲ್ಲಿ (ಚದರ ಇಂಚುಗಳು) ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ:

1) ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಅಡ್ಡ-ವಿಭಾಗದ ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕುಗಳಿಗೆ, 130 mm2 (0.20 in.2) 12.7 mm (0.500 in.) ಮತ್ತು 8.9 mm (0.350 in.) ವ್ಯಾಸದ ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕುಗಳು; 6.4 mm (0.250 in.) ವ್ಯಾಸದ ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕುಗಳಿಗೆ 65 mm2 (0.10 in.2);

2) ಪೂರ್ಣ-ವಿಭಾಗದ ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕುಗಳಿಗಾಗಿ, ಎ) 485 mm2 (0.75 in.2) ಮತ್ತು b) ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕಿನ ಅಡ್ಡ-ವಿಭಾಗದ ಪ್ರದೇಶ, ನಿರ್ದಿಷ್ಟಪಡಿಸಿದ ಹೊರಗಿನ ವ್ಯಾಸ ಮತ್ತು ಪೈಪ್‌ನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಗೋಡೆಯ ದಪ್ಪವನ್ನು ಬಳಸಿ ಪಡೆಯಲಾಗಿದೆ, ಹತ್ತಿರದ 10 mm2 (0.01 in.2) ಗೆ ದುಂಡಾದ;

3) ಸ್ಟ್ರಿಪ್ ಟೆಸ್ಟ್ ತುಣುಕುಗಳಿಗಾಗಿ, ಎ) 485 ಎಂಎಂ 2 (0.75 ಇಂಚುಗಳು) ಮತ್ತು ಬಿ) ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕಿನ ಅಡ್ಡ-ವಿಭಾಗದ ಪ್ರದೇಶ, ಪರೀಕ್ಷಾ ತುಣುಕಿನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಅಗಲ ಮತ್ತು ಪೈಪ್‌ನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಗೋಡೆಯ ದಪ್ಪವನ್ನು ಬಳಸಿ ಪಡೆಯಲಾಗಿದೆ , ಹತ್ತಿರದ 10 mm2 (0.01 in.2) ಗೆ ದುಂಡಾದ;

U ನಿರ್ದಿಷ್ಟಪಡಿಸಿದ ಕನಿಷ್ಠ ಕರ್ಷಕ ಶಕ್ತಿ, ಮೆಗಾಪಾಸ್ಕಲ್‌ಗಳಲ್ಲಿ (ಪ್ರತಿ ಚದರ ಇಂಚಿಗೆ ಪೌಂಡ್‌ಗಳು) ವ್ಯಕ್ತಪಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.