a Cu ≤ 0,50 %; Ni ≤ 0,50 %; Cr ≤ 0,50 % жана Mo ≤ 0,15 %.

b Көмүртек үчүн белгиленген максималдуу концентрациядан 0,01 % төмөн ар бир төмөндөтүү үчүн Mn үчүн белгиленген максималдуу концентрациядан 0,05 % жогору, ≥ L245 же В сорту үчүн максимум 1,65 %га чейин, бирок ≤ L360 же X52 үчүн жол берилет; > L360 же X52, бирок < L485 же X70 класстары үчүн максимум 1,75 %га чейин; жана L485 же X70 классы үчүн максимум 2,00 %га чейин.

c Эгерде башкасы макулдашылбаса, Nb + V ≤ 0,06 %.

d Nb + V + Ti ≤ 0,15 %.

e Эгерде башкасы макулдашылбаса.

f Эгерде башкасы макулдашылбаса, Nb + V + Ti ≤ 0,15 %.

g Атайылап B кошууга жол берилбейт жана B калдыгы ≤ 0,001 %.

Түтүк классы

Rt0.5

Rm

Af

Rm

c Белгиленген минималдуу узартуу,Aе пайыз менен туюнтулган жана эң жакын пайызга чейин тегеректелген төмөнкү теңдеме аркылуу аныкталат:

кайда

C SI бирдиктерин колдонуу менен эсептөөлөр үчүн 1940 жана USC бирдиктерин колдонуу менен эсептөөлөр үчүн 625,000 болуп саналат;

Axc – төмөнкүдөй түрдө квадрат миллиметрде (квадрат дюйм) туюнтулган, жарактуу чыңалуу сыноо бөлүгүнүн кесилишинин аянты:

1) тегерек кесилиштеги сыноо даана үчүн, 12,7 мм (0,500 дюйм) жана 8,9 мм (0,350 дюйм) диаметри үчүн 130 мм2 (0,20 дюйм); 65 мм2 (0,10 дюйм) 6,4 мм (0,250 дюйм) диаметри үчүн сыноо даана;

2) толук кесилиштүү сыналуучу даана үчүн а) 485 мм2 (0,75 дюйм) жана б) белгиленген тышкы диаметрди жана түтүктүн белгиленген дубал калыңдыгын колдонуу менен алынган сыноочу кесилиш аянтынан кичирээк, 10 мм2 (0,01 дюйм) тактыкка чейин тегеректелген;

3) тилкелүү сынамык даана үчүн а) 485 мм2 (0,75 дюйм) жана б) сыналуучу кесилиш аянтынын азы, сынагдын белгиленген туурасы жана түтүктүн белгиленген дубалынын калыңдыгы менен алынган. , 10 мм2 (0,01 дюйм) тактыкка чейин тегеректелген;

U мегапаскаль менен (квадрат дюймге фунт) көрсөтүлгөн белгиленген минималдуу чыңалуу күчү.